砂轮参数对SiC减薄工艺的影响

关键词 砂轮|2024-06-07 16:05:29|来源 宽禁带半导体技术创新联盟
摘要 SiC器件正面工艺完成后,需要用到减薄工艺对衬底进行减薄加工,降低器件的导通电阻。尤其对于600-1200V的中低压SiC器件,衬底电阻带来的损耗影响了SiC器件的高效使用。同时,...

SiC器件正面工艺完成后,需要用到减薄工艺 对衬底进行减薄加工,降低器件的导通电阻。尤 其对于600-1200V的中低压SiC器件,衬底电阻带 来的损耗影响了SiC器件的高效使用。同时,衬底 减薄还能降低封装体积、提升散射效率。常用的 减薄方式包括金刚石砂轮减薄、铸铁盘或树脂铁 盘研磨、CMP抛光。在这些工艺中,砂轮减薄具有 最高的去除效率和相对稳定的精度控制。然而, 由于SiC晶圆和砂轮成本都比较昂贵,如何降低减 薄过程中的破片率和砂轮损耗受到关注。

1、研究背景 

实验原理与设备。本实验采用in-feed磨削原 理的减薄机进行工艺,晶圆减薄过程如图1所示。晶圆由真空吸盘带着自转,砂轮由减薄机主轴带 动反方向旋转,同时以一定速率向下进给,利用 砂轮的锋利度对晶圆进行磨削加工。该方法加工 过程中,砂轮只与晶圆的1/4区域接触,保证了减 薄过程中砂轮负载不受晶圆面积变化的影响。

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实验所采用的设备如图2所示,主轴最大转速2 800rpm,主轴进给精度为0.1μm,最小进给速度 为0.1μm/s,真空吸盘最大转速300rpm。加工过程 中,冷却水会对主轴、砂轮、晶圆进行冷却,并对 晶圆表面进行清洗,避免减薄过程产生的热量以及 磨削的碎屑对工艺造成影响。设备具有自动在线测 厚功能,可以边加工边测量晶圆厚度。同时根据加 工量和主轴下降位置,计算出砂轮的损耗量。设备 自带负载实时监控功能,可以显示加工过程中的主 轴负载电流值,从而判断样品减薄过程中砂轮去除 样品的能力。负载值设置报警卡控线,超过卡控值 会报警,自动停止工艺。

实验过程。选用直径为150mm的SiC样品进行减 薄工艺,样品厚度为360±30μm。选取不同加工参 数的砂轮对样品进行减薄,对比砂轮参数对减薄效 果的影响。根据加工经验选择并优化工艺参数,对 比相同砂轮不同工艺参数对减薄的影响。

工艺步骤如下:(1)贴膜→测量样品厚度→ 工艺加工→量测厚度、测量粗糙度、记录砂轮损耗 值。(2)工艺加工过程中,实时观察主轴负载电流 值,根据主轴负载电流值优化工艺参数。

2、 实验结果及分析 

不同参数砂轮的加工效果及工艺参数优化。根 据经验值,选择初始减薄工艺参数如下:主轴转速  2 000rpm,真空吸盘转速277rpm,进给速率0.2μm/ s。工艺过程中,根据实际工艺情况调整主轴转速和 进给速率。主轴负载电流卡控值为45mA。

1#样品:砂轮使用传统金属结合剂,粒度 2000#,无人造孔隙,烧结温度500℃。采用经验 工艺参数进行减薄加工,砂轮与晶圆接触后负载电 流持续增加,10s钟内主轴负载电流超过报警值, 暂停工艺。取下晶圆检查外观和测试厚度。晶圆 表面有划痕,厚度几乎无变化。提高砂轮转速到 2500rpm,减薄进给速率降至0.1μm/s,重新进行 工艺加工,现象与上述相同。判断该砂轮无法减薄 SiC晶圆。

2#样品:砂轮使用传统金属结合剂,粒度 2000#,无人造孔隙,烧结温度500℃。在1#砂轮 基础上,加入一定比例脆性填料,如玻璃,氧化铝 等。采用经验工艺参数进行减薄加工,砂轮与晶圆 接触后负载电流变大,4min后主轴负载电流超过 报警值,暂停工艺,取下晶圆检查外观和测试厚 度。晶圆表面有划痕,厚度降低45μm。根据设备 补偿值计算,砂轮损耗3μm。提高砂轮转速到2 500  rpm,减薄进给速率降至0.1μm/s,重新进行工艺加 工,砂轮主轴负载电流在10s内超过报警值。判断 该砂轮无法减薄SiC晶圆。相对于1#砂轮,2#砂轮 略有改善。经过判断,认为锋利度不够可能是无法 减薄的主要原因,为3#砂轮的研制提供了思路。

3#样品:砂轮使用超细脆性金属结合剂,粒度 2000#,人造孔隙率60%以上,孔径120μm左右,烧 结温度500℃。采用经验工艺参数进行减薄加工, 加工一段时间后砂轮电流报警。加大主轴转速到 2500rpm进行工艺,主轴电流无报警,电流值波动 大,如图3所示。设置减薄100μm,实际减薄90μm  SiC晶圆,砂轮损耗50μm。损耗比(砂轮损耗:晶 圆去除量)1:1.8,无法满足低成本生产要求。通 过该样品得出,砂轮是否可以减薄SiC,主要与人 造孔隙率相关。提高减薄转速砂轮可以减薄晶圆, 验证砂轮的锋利度,这是SiC减薄的关键因素。

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4#样品:基于3#样品结果,砂轮使用超细脆 性金属结合剂,粒度2000#,人造孔隙率降低5%, 孔径70μm左右,烧结温度降低20%,烧结压力增 加50%。采用经验工艺参数进行减薄加工,砂轮电 流无报警,电流值波动稳定,如图4所示。设置减 薄100μm,实际减薄98μm,砂轮损耗5μm,损耗 比接近1:20。在此基础上,提高砂轮转速到2 500  rpm,砂轮进给速率0.5μm/s,主轴电流变大,有 安全隐患。降低进给速率到0.3μm/s,主轴电流稳 定。经过100片次晶圆减薄验证后,发现砂轮偶有打滑现象,晶圆表面偶尔出现表面纹路过深,甚至 晶圆破损。

5#样品:为了改善砂轮打滑,提高减薄稳定 性和减薄工艺质量,降低晶圆破损率,在4#样品基 础上进行砂轮改善。采用4#工艺,烧结压力较4#样 品降低10%。采用工艺参数为主轴转速2 500rpm, 进给速率0.3μm/s。砂轮电流无报警,电流值波 动稳定性提高,如图5所示。设置减薄100μm,实际减薄 98μm,砂轮损耗8μm,损耗 比接近1:13。长期使用砂轮 稳定性好,晶圆无破损,表面 纹路及粗糙度均满足要求。

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结果分析。通过上述5个样品砂轮进行减薄工 艺,可以得出在砂轮金刚石目数(2000#)相同的 情况下,决定砂轮是否可以减薄SiC的关键因素是 锋利度,而锋利度与孔隙率密切相关。这是由于 SiC硬度大,在减薄过程中,金刚石锋利度逐渐降 低,砂轮脱落不及时会造成新的金刚石无法露出表 面,造成无法去除SiC,同时主轴负载增加过大。

实验中还得出,砂轮寿命和稳定性是一对矛盾 的因素。提高砂轮寿命,就要降低孔隙率,同时减 薄过程会出现打滑、减薄后晶圆表面质量差甚至碎 片的可能。通过实验发现,降低烧结压力可以在保 证减薄工艺稳定的情况下,略微降低砂轮寿命。比 起调节孔隙率,降低烧结压力更加容易实现。试验 中发现,烧结温度提高会降低砂轮的锋利度,降低 烧结温度有利于提高减薄工艺的稳定性。

3、结语   
 在SiC减薄工艺中,主轴减薄转速和进给速率 对于去除速率和减薄质量有着一定影响。砂轮参数 对于SiC减薄的有着决定性的影响。采用砂轮工艺 需要平衡砂轮锋利度(稳定性)和寿命的关系,合 适的砂轮孔隙率和烧结工艺决定了砂轮是否可以有 效去除SiC、减薄时砂轮的损耗和稳定性。对于不 同能力的机台,可以根据机台主轴功率、最大转速 和进给速率,选择合适的砂轮来兼顾生产效率、生 产质量和砂轮损耗。采用砂轮工艺进行SiC减薄, 控制砂轮稳定性和提高砂轮寿命是一对矛盾的关 系,为了开发某款型号设备的减薄砂轮,需要根据 设备能力和工艺参数,进行一系列的实验来平衡稳 定性和寿命的问题。

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